利用NI半導體測試系統(STS)軟件的增強功能,進一步加速測試程序的開發,提高運營效率

2019-10-14 來源:微波射頻網 我要評論(0) 字號:

STS軟件的增強功能可幫助用戶提高半導體生產測試的效率,并降低測試成本

美國國家儀器(National Instruments,簡稱“NI”)是一家軟件定義平臺的提供商,其平臺有助于加速自動化測試和自動化測量系統的開發和性能提升,該公司于今日推出了STS軟件的最新增強功能,這些功能可顯著提升NI半導體測試系統的編程和調試體驗,并大大提高測試執行速度、并行測試效率和整體設備效率。

由于市場壓力不斷增加,半導體生產測試工程師正在力圖加快新測試程序的開發、調試和部署進程,以快速投入量產。對于尚未擁有測試系統的用戶,STS軟件2019提供了更優化的線下體驗來幫助他們更快速開發測試程序。其他優化包括簡化的驅動體驗,便于編程重復的儀器,以及簡化的數字掃描支持。另外,改進調試體驗后,用戶只需選擇相關待測設備(DUT)的site和引腳,即可在multi-site應用中快速進行交互式測量和調試自動化測試。

同樣,不斷增加的市場壓力也迫使半導體運營和制造團隊不斷優化半導體封裝和測試設備,以提高盈利能力。STS軟件2019通過優化儀器驅動來加快測試執行時間,并強化線程管理以提高并行測試效率,進而提高測試吞吐量。此外,由于制造團隊可以在不同批次之間切換測試系統配置,從而大幅縮短了軟件轉換時間,進而幫助STS客戶提高利用率和設備整體效率。

“半導體公司不斷受到縮短上市時間和降低測試成本的壓力。美國國家儀器已經擴展了NI半導體測試系統的功能,同時顯著提高了該系統的并行功能、速度和效率,”NI高級副總裁兼半導體業務總經理Ritu Favre說道,“STS軟件2019版的新增強化功能可幫助客戶加速上市并降低成本,為他們創造了巨大價值。”

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